Зависимость углов отражения рентгеновского излучения от электроповерхностного потенциала кристаллов

Abstract

UA: Виконані дослідження показали, що в рентгенофазовому аналізі рентгенівські промені проходять головним чином в зазорі між блоками кристалів і кристалогідратів. Кут відбиття рентгенівського випромінювання - 2θ визначається величиною абсолютного електроповерхневого потенціалу і додаткових потенціалів від комплексного дипольного моменту односпрямованих диполів молекул води в кристалогідратах та індукованого дипольного моменту поверхневих атомів кисню. Це підтверджується лінійною залежністю кута відбиття рентгенівського випромінювання від електроповерхневого потенціалу речовини.

EN: To study the various building materials at the atomic and molecular level structure are used of X-ray analysis method. These methods use X-ray diffraction in crystals. The most common is a method in which measured the distance between planes in the crystal lattice of the material. Modern understanding of the physical nature of the electric charge and the surface electric potential will increase the information content of the X-ray studies and raise it to a new level. The characteristic for determining the substance is a dual reflection angle. The change of the angle is determined by the absolute electrical potential surface of the material and additional potentials. Additional potentials arise from the complex of the dipole moment of water molecules which are directed to one side in crystalline hydrates and of the induced dipole moment of the oxygen atoms, which is on the surface. Accomplished studies have shown that X-rays penetrate not only between the planes of the crystal lattice, but also in the gap between the blocks of crystals and crystalline hydrates.