Оцінка ефективності комбінованих випробувань мікропроцесорної централізації за критерієм мінімуму обладнання

Abstract

UA: Виконано оцінку ефективності виконання комбінованих випробувань при технічному контролі мікропроцесорної централізації за критерієм мінімуму використаного обладнання нижнього рівня системи. Встановлено, що порівняно з традиційними стендовими комбіновані випробування дозволяють скоротити кількість задіяних у випробуваннях об’єктних контролерів та макетів напільних пристроїв у декілька разів.

EN: The estimation of implementation efficiency of combined tests is executed at technical inspection of microprocessor interlocking on the criterion of a minimum of the used equipment of the system lower level. It is set that as compared to a traditional stand the combined tests allow to save the amount of the objective comptrollers and models of floor devices involved in tests in once or twice. The declared efficiency is arrived at, foremost, due to possibility of including in the complement of test and inspection complex of the single system of representatives of comptrollers and devices of every objects group. It became possible due to the use of the combined model, providing the programmatic imitation of work of those devices with which physically included in the complement of stand CPLD logical dependences. For the quantitative estimation of efficiency an index, taking into account the relative winning in the economy of microprocessor objective comptrollers and physical models, is offered.