Please use this identifier to cite or link to this item: http://lib.kart.edu.ua/handle/123456789/23407
Title: Залежність кутів відбиття рентгенівського випромінювання від електроповерхневого потенціалу кристалів
Other Titles: Dependence of the angular reflection of x-radiation from the surface electrical potential of crystals
Authors: Борзяк, Ольга Сергіївна
Borziak, O.
Issue Date: 2015
Publisher: Український державний університет залізничного транспорту
Citation: Борзяк О. С. Залежність кутів відбиття рентгенівського випромінювання від електроповерхневого потенціалу кристалів / О. С. Борзяк // Проблеми надійності та довговічності інженерних споруд і будівель на залізничному транспорті: тези доповідей 5-ї міжнар. наук.-техн. конф. з будівельних матеріалів, конструкцій та споруд (23-24 квітня). - Харків: УкрДУЗТ, 2015. - С. 34.
Abstract: У будівельному матеріалознавстві для дослідження структури (будови) різних матеріалів на атомно-молекулярному рівні використовуються рентгенографчні методи аналізу, які являють собою сукупність методів дослідження, що використовують рентгенівське випромінювання. Найбільш поширеним є рентгеноструктурний аналіз, сутність якого полягає у визначенні на отриманих рентгенограмах (приладових записах) міжплощинних відстаней в кристалічних решітках досліджуваних сполук для подальшої ідентифікації їх за таблицями. Сучасні уявлення про фізичну сутність електричного заряду і абсолютного електроповерхневого потенціалу (ЕПП) дозволять збільшити інформативність рентгенографічних досліджень і підняти її на новий якісний рівень.
URI: http://lib.kart.edu.ua/handle/123456789/23407
Appears in Collections:Проблеми надійності та довговічності інженерних споруд і будівель на залізничному транспорті

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Борзяк.pdf255.1 kBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.