Усовершенствование технического контроля системы микропроцессорной централизации путем повышения эффективности ее функциональных испытаний

Abstract

В процессе анализа известных методов и средств технического контроля системы МПЦ установлено, что основными их недостатками и ограничениями являются: недостаточный учёт особенностей систем конкретного назначения и архитектуры построения; низкое тестовое покрытие функций, условий и технологических ситуаций либо необходимость значительных ресурсов (временных и материальных) для его обеспечения; значительные трудозатраты при формировании моделей для испытаний и необходимость высокой квалификации их проектировщиков в области программного обеспечения. Предложены пути усовершенствования данных методов и средств за счёт использования разных способов моделирования составляющих элементов и подсистем, а также автоматизации процесса формирования моделей для испытаний.